ГОСТ 24613.8-83
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ И ОПТОПАРЫ
Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring critical change rate of dielectric voltage
ОКП 62 3000
Дата введения 1984-07-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 21 июня 1983 г. N 2607 срок действия установлен с 01.07.84 до 01.07.89*
_________________
* Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - .
ВЗАМЕН ГОСТ 22440.4-77
ПЕРЕИЗДАНИЕ. Май 1984 г.
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов (далее - приборы), и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора.
Общие условия при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 24613.0-81.
1. ПРЯМОЙ МЕТОД
1.1. Принцип и условия измерения
1.1.1. Критическая скорость изменения напряжения изоляции - скорость, при которой еще не происходит срабатывание прибора.
1.1.2. Температурный режим, значения постоянных напряжений, амплитуда и длительность фронта импульса напряжения изоляции должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях.
1.2. Аппаратура
1.2.1. Измерения следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.
Черт.1
1.2.2. Генератор входного сигнала
1.2.3. Генератор импульсного напряжения
1.2.4. Измеритель выходного сигнала
Примечание. Измеритель
1.2.5. Источник постоянного напряжения
1.3. Подготовка и проведение измерений
1.3.1. К измерительной установке подключают проверяемый прибор.
1.3.2. Устанавливают заданные значения: напряжения питания от источника
1.3.3. Уменьшая длительность фронта входного импульса от генератора
1.4. Обработка результатов измерения
1.4.1. Критическую скорость изменения напряжения изоляции
где
1.5. Показатели точности измерений
1.5.1. Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.
1.5.2. Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
где
2. КОСВЕННЫЙ МЕТОД
2.1. Принцип и условия измерения
2.1.1. Критическую скорость изменения напряжения изоляции определяют на основе результатов измерения проходной емкости
2.1.2. Пороговый входной ток измеряют на входе встроенной микросхемы.
2.1.3. Температурный режим и значения напряжений должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.
2.2. Аппаратура
2.2.1. Измерения порогового входного тока следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.2.
Черт.2
2.2.2. Регулируемый источник постоянного напряжения
2.2.3. Измеритель тока
2.2.4. Измеритель постоянного напряжения
2.3. Подготовка и проведение измерений
2.3.1. Измеряют проходную емкость по ГОСТ 24613.1-81.
2.3.2. Измеряют пороговый ток. Для этого проверяемый прибор подключают к измерительной установке, приведенной на черт.2, и устанавливают значения напряжения питания микросхемы, указанные в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.
2.3.3. От источника
2.4. Значение критической скорости изменения напряжения
где
2.5. Показатели точности измерений
2.5.1. Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.
2.5.2. Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
где
Электронный текст документа
и сверен по:
Микросхемы интегральные.
Оптоэлектронные и оптопары. Методы
измерения электрических параметров:
Сборник. ГОСТ 24613.8-83, ГОСТ 24613.9-83,
ГОСТ 24613.10-77-ГОСТ 24613.18-77,
ГОСТ 24613.19-77. -
М.: Издательство стандартов, 1984