ГОСТ 25370-82
Группа П49
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ФОТОУМНОЖИТЕЛИ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ
Основные параметры. Методы измерений основных параметров
Measuring photomultipliers. Basic parameters, measuring methods of basic parameters
Дата введения 1983-07-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. N 2991 срок введения установлен с 01.07.83
ПЕРЕИЗДАНИЕ. Май 1983 г.
Настоящий стандарт распространяется на фотоумножители измерительные (далее ФЭУ), предназначенные для использования в качестве средств измерений мощности и динамических характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень основных параметров и методы их измерений.
Стандарт не распространяется на ФЭУ, поставляемые как комплектующие изделия для средств измерений.
1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1.1. Все измерения проводятся при нормальных условиях в соответствии с ГОСТ 24469-80*.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ Р ИСО 11554-2008, здесь и далее по тексту. - .
1.2. В помещении, где проводятся измерения, не должно быть конвекционных потоков (в том числе активной вентиляции) источников пыли, посторонних тепловых возмущений, внешних магнитных полей.
1.3. Перед измерением параметров ФЭУ должны быть выдержаны в течение времени и в условиях, указанных в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
1.4. Поверхность входного окна ФЭУ должна быть расположена перпендикулярно направлению потока излучения, если иные требования не установлены в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
1.5. Все параметры ФЭУ измеряют в защитной камере.
1.6. Аппаратура
1.6.1. Защитная камера
1.6.1.1. Защитная камера должна обеспечивать защиту ФЭУ от внешних источников оптического излучения, а также от воздействия других внешних факторов, указанных в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
Корпус защитной камеры должен иметь электрическое соединение с корпусом испытательной установки.
Проводящие поверхности конструкции камеры, соединенные с корпусом, не должны касаться баллона ФЭУ.
Не допускается для изготовления изолирующих прокладок между баллоном ФЭУ и металлическими частями камеры использовать материалы, вызывающие электризацию стекла. Не допускается использовать материалы с высокой люминесценцией в качестве конструктивных элементов, находящихся вблизи фотокатода ФЭУ.
Конструкция камеры должна исключать отражение от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.
Диафрагма, ограничивающая рабочую площадь фотокатода, должна быть расположена непосредственно перед фотокатодом, если иные требования не установлены в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
Размеры отверстия диафрагмы и точность их выполнения должны соответствовать рабочей площади фотокатода и требованиям нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
1.6.2. Источники оптического излучения
Для измерения параметров ФЭУ в качестве источников излучения применяют стабильные лампы накаливания, светодиоды, лазеры.
1.6.3. Измерительные ослабители
Для ослабления потока оптического излучения используют измерительные ослабители. Для ослабителей должны быть указаны следующие технические и метрологические характеристики: коэффициент ослабления, как функция длины волны; погрешность коэффициента ослабления, как функция коэффициента ослабления и длины волны; стабильность коэффициента ослабления во времени.
1.6.4. Источники питания
Для питания ФЭУ следует применять источники напряжения постоянного тока.
При измерении предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ±10% не должна быть более ±0,05%.
Нестабильность выходного напряжения источников питания в течение времени измерения не должна быть более ±0,05%.
При измерении темнового анодного тока, нестабильности, времени нарастания переходной характеристики нестабильность выходного напряжения источников питания при изменении напряжения питающей сети на ±10% не должна быть более ±0,5%. Нестабильность выходного напряжения источников питания в течение времени измерения не должна быть более ±0,5%.
Напряжение пульсаций источников питания ФЭУ не должно быть более 50 мВ. В тех случаях, когда для питания ФЭУ применяют отдельные источники питания, нестабильность каждого при изменении напряжения питающей сети на ±10% не должна быть более ±0,3%.
Нестабильность выходного напряжения источников питания в течение времени измерения не должна быть более ±0,3%.
Напряжение пульсаций источников питания на выходе не должно быть более 50 мВ.
1.6.5. Делитель напряжения питания
1.6.5.1. Делитель напряжения питания должен обеспечивать распределение напряжения питания между динодами в соответствии с требованиями стандартов на ФЭУ конкретных типов.
Соотношение сопротивлений резисторов делителя должно соответствовать заданному распределению напряжений с погрешностью не более ±1%, кроме случаев, указанных в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
При измерении параметров ФЭУ ток делителя напряжения питания должен превышать средний анодный ток ФЭУ не менее чем в 100 раз, если другие требования не установлены в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
При питании каскадов от отдельных источников напряжения значение их номинальных токов нагрузки не должно быть меньше значений токов соответствующих каскадов ФЭУ.
При работе ФЭУ в импульсном режиме звенья делителя напряжения, питающие последние каскады ФЭУ, должны шунтироваться конденсаторами, значение емкостей которых
где
100 - коэффициент, вводимый в предположении 1%-ного допустимого изменения напряжения на каскаде.
1.6.6. Измерительные приборы
1.6.1.1. При измерении параметров ФЭУ напряжение питания контролируют приборами класса не хуже 1,0.
Измерение токов до 3·10
1.7. Требования безопасности
1.7.1. При подготовке к измерениям и при проведении измерений параметров ФЭУ следует руководствоваться общими правилами безопасности в соответствии с ГОСТ 12.2.003-74* и ГОСТ 24469-80.
_____________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 12.2.003-91. - .
1.7.2. Защитное заземление и сопротивление изоляции электрооборудования следует систематически контролировать в соответствии с ГОСТ 12.3.019-80.
2. ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ И ХАРАКТЕРИСТИКИ
2.1. Основные параметры и характеристики ФЭУ, а также диапазоны значений параметров, на которые распространяются методы измерений, приведены в таблице.
Параметры (характеристики) ФЭУ | Значения параметров, | Номера пунктов стандарта |
Область спектральной чувствительности, мкм | 0,22-1,2 | 3.1 |
Спектральная анодная чувствительность, А/Вт, на фиксированных длинах волн | 10 | 3.2; 3.3 |
Темновой ток, А, не более | 10 | 3.4 |
Предел линейности характеристики преобразования в статическом режиме, А, не менее | 10 | 3.5 |
Предел линейности характеристики преобразования в импульсном режиме, А | 0,2-10 | 3.6 |
Время нарастания переходной характеристики, с, не более | 10 | 3.7 |
Нестабильность, %, не более | 10 | 3.8; 3.9 |
Основная относительная погрешность измерения мощности, %, не более | 25 |
3. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ
3.1. Область спектральной чувствительности ФЭУ определяют по измерениям относительной спектральной чувствительности фотокатода.
При этом за границы области принимают длины волн, на которых относительная спектральная чувствительность составляет 0,01 от максимального значения.
3.1.1. Принцип измерений
3.1.1.1. Метод измерений основан на сравнении спектральной чувствительности исследуемого фотокатода со спектральной чувствительностью контрольного приемника.
3.1.2. Аппаратура
3.1.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.1.
1 - блок питания и контроля режима источника излучения; 2 - источник излучения; 3 - осветительная система; 4 - спектральный прибор; 5 - контрольный приемник излучения; 6 - исследуемый ФЭУ; 7 - устройство для измерения выходного сигнала исследуемого ФЭУ; 8 - устройство для измерения выходного сигнала контрольного приемника; 9 - блок питания ФЭУ
Черт.1
3.1.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.1.3. Подготовка и проведение измерений
3.1.3.1. ФЭУ в защитной камере устанавливают у выходной щели монохроматора таким образом, чтобы поток излучения не выходил за пределы фотокатода.
3.1.3.2. За выходной щелью монохроматора в защитной камере устанавливают поочередно контрольный приемник излучения и исследуемый ФЭУ и регистрируют показания соответствующего прибора поочередно, заменяя контрольный приемник ФЭУ либо на каждой длине волны, либо после прохождения всего спектрального диапазона.
3.1.3.3. В зависимости от вида кривой определяемой спектральной характеристики чувствительности измерения проводят с интервалом 5-20 нм в ультрафиолетовой области спектра и 10-30 нм в видимой и инфракрасной областях спектра.
3.1.3.4. Полуширина спектрального интервала, выделяемого монохроматором, не должна превышать интервала, указанного в п.3.1.3.3.
3.1.4. Обработка результатов
3.1.4.1. При использовании в качестве контрольных неселективных приемников относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода
где
3.1.4.2. При использовании в качестве контрольных селективных приемников с известной относительной спектральной характеристикой чувствительности относительную спектральную характеристику чувствительности исследуемого фотокатода определяют по формуле
________________
* Формула соответствует оригиналу. - .
где
3.1.4.3. Основная относительная погрешность измерения спектральной характеристики чувствительности фотоэлементов при принятой доверительной вероятности
3.2. 1-й метод измерений спектральной анодной чувствительности на фиксированных длинах волн
3.2.1. Принцип измерений
3.2.1.1. Спектральную анодную чувствительность на фиксированных длинах волн определяют с помощью аттестованных (поверенных) источников излучения на основе светодиодов.
3.2.2. Аппаратура
3.2.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.2.
1 - источник оптического излучения на основе светодиода; 2 - камера с ФЭУ и делителем напряжения; 3 - вольтметр или осциллограф; 4 - источник питания ФЭУ
Черт.2
3.2.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.2.3. Подготовка и проведение измерений
3.2.3.1. Напряжение питания ФЭУ устанавливают в соответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ конкретных типов.
3.2.3.2. Поток излучения подбирают так, чтобы обеспечить работу исследуемого ФЭУ на уровне (0,5
3.2.3.3. Спектральную анодную чувствительность определяют путем измерений анодного фототока
3.2.4. Обработка результатов
3.2.4.1. Спектральную анодную чувствительность
где
3.2.4.2. Проводят серию из
и принимают его за результат измерений.
3.2.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2.
При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности
3.3. 2-й метод измерений спектральной анодной чувствительности на фиксированных длинах волн
3.3.1. Принцип измерений
3.3.1.1. Спектральную анодную чувствительность на фиксированных длинах волн определяют методом прямых измерений путем сравнения анодной спектральной чувствительности исследуемого ФЭУ со спектральной чувствительностью контрольного приемника.
3.3.2. Аппаратура
3.3.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.2.
3.3.2.2. Перечень рекомендованных средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.3.3. Подготовка и проведение измерений
3.3.3.1. Исследуемый ФЭУ и контрольный приемник устанавливают поочередно в защитную камеру за выходной щелью монохроматора таким образом, чтобы на исследуемый ФЭУ и приемную площадку контрольного приемника попадал один и тот же выделенный монохроматором поток излучения.
3.3.4. Обработка результатов измерений
3.3.4.1. Спектральную анодную чувствительность исследуемого ФЭУ (А/Вт) рассчитывают по формуле
где
3.3.4.2. Основная относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности
3.4. Метод измерений темнового анодного тока
3.4.1. Принцип измерений
3.4.1.1. Темновой анодный ток измеряют в цепи анода ФЭУ методом прямого измерения.
3.4.2. Аппаратура
3.4.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.3.
1 - исследуемый ФЭУ; 2 - делитель напряжения вольтметра; 3 - вольтметр; 4 - делитель напряжения ФЭУ; 5 - амперметр
Черт.3
3.4.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.4.2.3. Токи утечки в цепи, в которую включен анод ФЭУ, должны быть меньше возможных тепловых токов ФЭУ конкретных типов не менее чем в 100 раз.
3.4.3. Подготовка и проведение измерений
3.4.3.1. Устанавливают напряжение питания ФЭУ, обеспечивающее спектральную анодную чувствительность в соответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ конкретных типов.
3.4.3.2. ФЭУ выдерживают в темноте 5 мин, если иное время не указано в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.4.3.3. Измеряют темновой анодный ток ФЭУ.
3.4.4. Обработка результатов
3.4.4.1. Значение темнового анодного тока
3.4.4.2. Проводят серию из
Среднее значение темнового анодного тока
и принимают его за результат измерений.
3.4.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности
3.5. Метод определения предела линейности характеристики преобразования в статистическом режиме
3.5.1. Принцип измерений
3.5.1.1. Соответствие характеристики преобразования заданному пределу линейности в статистическом режиме определяют путем измерения постоянного напряжения на анодной нагрузке ФЭУ при освещении рабочей площади фотокатода двумя независимыми постоянными токами излучения.
3.5.2. Аппаратура
3.5.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.4.
1, 2 - источники постоянного оптического излучения; 3 - измерительный ослабитель; 4 - оптический смеситель; 5 - камера с исследуемым ФЭУ, делителем напряжения питания и резистором анодной нагрузки; 6 - источник питания ФЭУ; 7 - вольтметр постоянного тока
Черт.4
3.5.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.5.3. Подготовка и проведение измерений
3.5.3.1. Устанавливают напряжение питания ФЭУ, соответствующее спектральной анодной чувствительности, указанной в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
Значение тока делителя, питающего ФЭУ, должно превышать значение выходного тока ФЭУ не менее чем в 100 раз. Если источник питания не может обеспечить такой ток, то последние каскады необходимо питать от отдельных источников. В таком случае значение тока делителя источника питания ФЭУ в 100 раз должно превышать значение тока последнего динода, подключенного к делителю.
3.5.3.2. Освещают фотокатод ФЭУ таким постоянным потоком излучения от источника 1, чтобы значение постоянного напряжения на анодной нагрузке ФЭУ соответствовало значению предела линейности, указанному в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов при данном сопротивлении нагрузки.
3.5.3.3. Измеряют напряжение на анодной нагрузке ФЭУ при освещении фотокатода постоянным потоком излучения от источника 2.
3.5.3.4. Измеряют напряжение на анодной нагрузке ФЭУ при освещении фотокатода от источника 1 и 2 одновременно.
3.5.3.5. Изменяют значение постоянного потока излучения, указанное в пп.3.5.3.2-3.5.3.4, так, чтобы значение анодного фототока ФЭУ изменилось от минимального, равного темновому току, до максимального, указанного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.5.4. Обработка результатов
3.5.4.1. Отклонение от линейности
где
3.5.4.2. Проводят серию из
и принимают его за результат измерений.
3.5.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерения при принятой доверительной вероятности
3.6. Метод определений предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме
3.6.1. Принцип измерений
3.6.1.1. Соответствие заданному пределу линейности характеристики преобразования в импульсном режиме определяют при освещении фотокатода ФЭУ источником импульсов оптического излучения с длительностью импульсов на полувысоте от 0,05 до 1 мкс при скважности не менее 1000, если иное не указано в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.6.2. Аппаратура
3.6.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.5.
1 - источник импульсов оптического излучения; 2 - измерительный ослабитель; 3 - камера с исследуемым ФЭУ и делителем напряжения питания; 4 - источник питания ФЭУ; 5 - импульсный вольтметр или осциллограф
Черт.5
3.6.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведены в рекомендуемом приложении 1.
3.6.3. Подготовка и проведение измерений
3.6.3.1. Устанавливают напряжение питания ФЭУ, соответствующее спектральной анодной чувствительности, указанной в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.6.3.2. При помощи измерительного ослабителя регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы амплитуда импульса анодного фототока соответствовала пределу линейности, указанному в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.6.3.3. Уменьшают амплитуду импульса оптического излучения от 2 до 10 раз и производят измерение амплитуды импульса анодного фототока.
3.6.4. Обработка результатов
3.6.4.1. Отклонение от линейности
где
3.6.4.2. Проводят серию из
Среднее значение
и принимают его за результат измерений.
3.6.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность измерений при принятой доверительной вероятности
3.7. Метод измерений времени нарастания переходной характеристики
3.7.1. Принцип измерений
3.7.1.1. Измерения производят путем обработки осциллограммы сигнала на выходе исследуемого ФЭУ.
3.7.2. Аппаратура
3.7.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.6.
1 - источник импульсов оптического излучения на основе лазера; 2 - ослабитель; 3 - камера с исследуемым ФЭУ и делителем напряжения питания; 4 - источник питания ФЭУ; 5 - стробоскопический осциллограф
Черт.6
3.7.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.7.3. Подготовка и проведение измерений
3.7.3.1. Устанавливают напряжение питания ФЭУ в соответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ конкретных типов.
3.7.3.2. При помощи ослабителя регулируют амплитуду импульса оптического излучения таким образом, чтобы амплитуда импульса анодного фототока ФЭУ не превышала предела линейности, указанного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.7.3.3. Получают на экране осциллографа изображение выходного сигнала ФЭУ.
3.7.3.4. Отмечают уровни 0,1 и 0,9 импульса.
3.7.3.5. Измеряют время нарастания переходной характеристики.
3.7.4. Обработка результатов
3.7.4.1. Время нарастания переходной характеристики ФЭУ
где
3.7.4.2. Проводят серию из
Среднее значение времени нарастания переходной характеристики
и принимают его за результат измерений.
3.7.4.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности
3.8. Метод измерения нестабильности ФЭУ в статическом режиме
3.8.1. Принцип измерений
3.8.1.1. Нестабильность ФЭУ определяют по изменению анодного фототока в течение времени, предусмотренного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.8.2. Аппаратура
3.8.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.7.
1 - стабилизированный источник оптического излучения; 2 - измерительный ослабитель; 3 - камера с исследуемым ФЭУ и делителем напряжения питания; 4 - стабилизированный источник питания ФЭУ; 5 - устройство для регистрации значений анодного фототока
Черт.7
3.8.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.8.2.3. Нестабильность потока излучения должна быть меньше ожидаемой нестабильности ФЭУ более чем в 10 раз.
3.8.3. Подготовка и проведение измерений
Напряжение питания и анодный фототок устанавливают в соответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ конкретных типов.
При измерении анодный фототок ФЭУ регистрируют в течение времени, указанного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.8.3.1. Обработка результатов
Нестабильность ФЭУ
где
3.8.3.2. Проводят серию из
Среднее значение нестабильности
и принимают его за результат измерений.
3.8.3.3. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2. При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности
3.9. Метод измерения нестабильности ФЭУ в импульсном режиме
3.9.1. Принцип измерений
3.9.1.1. Нестабильность ФЭУ определяют по изменению максимума анодного фототока в течение времени, предусмотренного в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов. Одновременно регистрируют нестабильность источника питания ФЭУ.
3.9.2. Аппаратура
3.9.2.1. Схема расположения средств измерений и вспомогательных устройств должна соответствовать приведенной на черт.8.
1 - стабилизированный источник импульсов оптического излучения; 2 - измерительный ослабитель; 3 - камера с исследуемым ФЭУ и делителем напряжения; 4 - стабилизированный источник питания ФЭУ; 5 - импульсный вольтметр или осциллограф
Черт.8
3.9.2.2. Перечень рекомендуемых средств измерений и вспомогательных устройств приведен в рекомендуемом приложении 1.
3.9.3. Подготовка и проведение измерений
3.9.3.1. Напряжение питания и анодный фототок устанавливают в соответствии с нормативно-технической документацией на ФЭУ конкретных типов.
3.9.3.2. Анодный фототок регистрируют в течение времени и с интервалами, указанными в нормативно-технической документации на ФЭУ конкретных типов.
3.9.4. Обработка результатов
3.9.4.1. Нестабильность ФЭУ
где
где
3.9.4.2. Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении 2.
При использовании указанной измерительной аппаратуры и оборудования основная относительная погрешность при принятой доверительной вероятности
ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ АППАРАТУРА И ОБОРУДОВАНИЕ
Измерительная аппаратура, оборудование | Типы и основные параметры | Приме- |
Спектральный прибор | Двойной хроматор типа ДМР-4. Рассеянный свет в измеряемом диапазоне спектра не должен превышать 1%. Погрешность измерения 4% | |
Контрольный приемник излучения при измерении относительной чувствительности фотокатода | Тепловые приемники излучения - термоэлементы типа РТН с отклонением от неселективности не более 2% в используемом спектральном диапазоне или кремниевые фотодиоды типа ФД-24к, имеющие стабильную спектральную характеристику | |
Защитная камера | По п.6.1 настоящего стандарта | |
Источник питания исследуемого ФЭУ | По п.1.6.4 настоящего стандарта | |
Источники излучения | Для работы в ультрафиолетовой части спектра (11-340 нм) применяют газоразрядные лампы с водородным наполнением - водородная лампа типа ВЛФ-25, ВЛФ-40 или газоразрядные лампы с дейтериевым наполнением типов ДДС-30, ДДС-400, с увиолевыми кварцевыми, сапфировыми или фтористомагниевыми окнами в зависимости от исследуемого спектрального диапазона. Для работы в длинно-волновом участке ультрафиолетового спектра (300-380 нм), а также в видимой и ближней ИК-области (360-1500 нм) следует применять ленточную лампу накаливания типа СИ-10-300у, имеющую увиолевое, сапфировое или кварцевое окно. В качестве источника оптического излучения могут использоваться: источник излучения по ГОСТ 8.198-76* и другие метрологически аттестованные лазеры, работающие в импульсно-модулированном режиме с аналогичными параметрами и с Составляющая основной погрешности, обусловленная нестабильностью источников излучения, не должна превышать погрешности остальных средств измерений за время измерений параметров ФЭУ | |
______________ * На территории Российской Федерации действует ГОСТ 8.198-85. - . | ||
Блок питания и устройство контроля режима источника излучения | Источники постоянного тока типа СИП-30, МКТС-35. Для контроля режима источника излучения применять амперметр класса точности не ниже 0,2 для ламп накаливания и класса точности не более 0,5 для газоразрядных ламп | |
Измерительные приборы | По п.1.6.6 настоящего стандарта | |
Вольтметр постоянного тока | Класс точности не ниже 1,0. Предел измерений от 1-3000 В | |
Микроамперметр постоянного тока | Класс точности не ниже 1,0. Предел измерений 0,1-100 мкА | |
Регистратор осциллографический | Тип 6ЛОР-04. Погрешность измерений по оси процесса 5%. Погрешность измерений по оси времени 5% | |
Импульсный вольтметр | Тип В-4-17. Для измерений амплитудных значений электрических сигналов с погрешностью не более 4%. Динамический диапазон 10 Длительность электрических импульсов 10 | |
Вольтметр переменного тока | Класс точности не ниже 1,5. Предел измерений от 0,3 мВ до 300 В | |
Стробоскопический осциллограф | Тип С7-12. Полоса частот 5 ГГц; чувствительность 5 мВ/см. Погрешность амплитудных измерений не более 5%. Погрешность временных измерений не более 5% | |
Оптический смеситель | Равномерно освещает фотокатод исследуемого ФЭУ от обоих источников и не изменяет спектрального состава оптического излучения | |
Измерительные ослабители | По п.1.6.3 настоящего стандарта Составляющая основной погрешности, обусловленная нестабильностью коэффициента ослабления измерительных ослабителей, не должна превышать погрешность остальных средств измерений за время измерений параметров ФЭУ | |
Для измерений могут применяться другие средства измерений с аналогичными или лучшими характеристиками.
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Справочное
Расчет погрешности измерений основных параметров ФЭУ
1. Основную относительную погрешность измерений параметров ФЭУ, %, согласно ГОСТ 8.207-76 определяют по формуле
где
1.1. Для основной относительной погрешности измерений спектральной анодной чувствительности на фиксированных длинах волн (метод 1) составляющие основной относительной погрешности определяют по формулам:
где
где
1.2. Основная относительная погрешность измерений темнового тока.
Относительное среднее квадратическое отклонение
В качестве неисключенной систематической погрешности результата измерений
1.3. Основная относительная погрешность измерений предела линейности характеристики преобразования в статическом режиме.
Относительное среднее квадратическое отклонение
где
1.4. Основная относительная погрешность измерений предела линейности характеристики преобразования в импульсном режиме.
Относительное среднее квадратическое отклонение
Неисключенную систематическую погрешность
где
1.5. Основная относительная погрешность измерений времени нарастания переходной характеристики.
Относительное среднее квадратическое отклонение
Неисключенную систематическую погрешность
где
1.6. Основная относительная погрешность измерений нестабильности.
Относительное среднее квадратическое отклонение
Неисключенную систематическую погрешность
где
Электронный текст документа
и сверен по:
М.: Издательство стандартов, 1983
