ГОСТ 28624-90 Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы

ГОСТ 28624-90
(МЭК 747-11-85)

Группа Э23

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы

Semiconductor devices.
Part 11: Sectional specification for discrete divices

МКС 31.080

ОКСТУ 6341

Дата введения 1991-01-01

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1. ВНЕСЕН Министерством электронной промышленности СССР

2. Постановлением Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 23.07.90 N 2246 введен в действие государственный стандарт СССР ГОСТ 28694-90, в качестве которого непосредственно применен международный стандарт МЭК 747-11-85, с 01.01.91

3. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

4. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Май 2005 г.

ПРЕДИСЛОВИЕ

1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.

2. Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.

3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы национальные комитеты приняли за основу настоящий стандарт МЭК в качестве своих национальных стандартов, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

ВВЕДЕНИЕ

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 "Полупроводниковые приборы".

Настоящий стандарт устанавливает групповые технические условия на дискретные приборы (исключая оптоэлектронные приборы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

Текст настоящего стандарта основан на следующих документах:

Более подробную информацию можно найти в отчете о голосовании, указанном в данной таблице.

Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером технических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящие групповые технические условия (далее - ТУ) распространяются на полупроводниковые дискретные приборы (далее - приборы), за исключением оптоэлектронных приборов.

2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Настоящие групповые ТУ должны применяться совместно с соответствующими общими ТУ стандарта МЭК 747-10 (ГОСТ 28623).

В настоящих групповых ТУ установлен порядок сертификации, требования контроля, программы отбраковочных испытаний, требования выборочного контроля, порядок испытаний и измерений, необходимых для подтверждения соответствия приборов заданному уровню качества.

2.1. Используемые документы

ГОСТ 28623-90 (МЭК 747-10-84) Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

2.2. Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)

Рекомендуемые значения температур установлены в МЭК 747-1, глава VI, разд.5 (ГОСТ *).

________________

* Находится в стадии разработки.

2.3. Рекомендуемые значения напряжений и токов (предпочтительные значения)

Рекомендуемые значения напряжений и токов установлены в МЭК 747-1, глава VI, разд.6.

2.4. Обозначение выводов

2.4.1. Диоды

Полярность диодов должна быть четко обозначена одним из следующих способов:

1) графическим обозначением - стрелкой выпрямителя, направленной в сторону катода;

2) цветовым кодом:

- диоды в корпусах А20 по МЭК 191-2 (ГОСТ 17467) (КД-6 по ГОСТ 18472) и меньших размеров должны быть маркированы со стороны катода полосой или точкой контрастного цвета. В том случае, когда цветовыми полосами обозначается тип прибора, диод со стороны катода может быть промаркирован полосой двойной ширины, используемой для обозначения первой цифры. Если существует вероятность смещения цветового кода для обозначения катода диодов в корпусах меньших размеров, чем корпус AIB по МЭК 191-2 (КД-11 по ГОСТ 18472), то последний вариант маркировки не должен применяться;

- для обозначения катодов диодов в корпусах, имеющих размеры больше, чем корпус А20 по МЭК 191-2 (КД-6 по ГОСТ 18472), следует применять красный цвет.

2.4.2. Транзисторы

Обозначение выводов должно быть установлено в ТУ на транзисторы конкретных типов.

2.4.3. Тиристоры

Выводы должны быть обозначены одним из следующих способов:

1) графическим обозначением тиристора: стрелкой с острием, направленным в сторону катода;

2) цветовым кодом: вывод катода должен быть обозначен красным цветом, вывод анода - голубым или черным цветом, вывод управляющего электрода - белым или желтым цветом.

Если перечисленные выше способы маркировки технически не выполнены, то обозначения выводов должны быть установлены в ТУ на тиристоры конкретных типов.

2.5. Цветовой код для обозначения типа прибора

2.5.1. Обозначение приборов типа JEDEC

Цветовой код числовой части обозначения типа диода малого сигнала (числа, следующего за 1 N) и возможных буквенных индексов устанавливается в соответствии с таблицей настоящего пункта.

Порядок нумерации устанавливается слева направо, причем левая сторона обозначается более широкой цветовой полосой или размещением цветовой группы ближе к левой стороне корпуса.

Двузначным номерам должен предшествовать нуль.

2.5.2. Обозначение приборов типа PRO ELECTRON

Цветовой код обозначения типа диода малого сигнала устанавливается в соответствии с таблицей настоящего пункта.

Сторона катода обозначается широкой полосой (полосами).

2.5.3. Обозначение приборов других типов

Цветовой код устанавливается в ТУ на приборы конкретных типов; для обозначения цифр от 0 до 9 следует использовать цветовой код, установленный в таблице пп.2.5.1, 2.5.2.

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИЙ

3.1. Начальный этап технологического процесса

Начальный этап технологического процесса - первый процесс, который изменяет тип проводимости исходного монокристаллического полупроводникового материала - или - типа для кремниевых приборов или подобным образом изменяет другие полупроводниковые материалы.

3.2. Конструктивно-подобные приборы

В целях комплектования выборок для утверждения соответствия приборов ТУ, контроля по партиям и периодических испытаний приборы могут быть сгруппированы по типам, как указано ниже.

3.2.1. Объединение приборов для проведения электрических испытаний

Приборы одной конструкции, изготовленные на одной производственной линии, отличающиеся номинальными значениями электрических параметров или их предельно допустимыми значениями, должны быть объединены в подпартии в соответствии с данными различиями, то есть распределены по типам.

Такие приборы должны быть преимущественно включены в одни ТУ на приборы конкретных типов, но в каждом конкретном случае в отчете по испытаниям на утверждение соответствия приборов требованиям ТУ необходимо указывать признаки, по которым проводилось объединение.

3.2.1.1. Различные предельно допустимые значения электрических параметров

Для той части испытаний, где предельно допустимые значения электрических параметров отличаются для подпартии, объем выборки для испытаний от каждой подпартии определяется в зависимости от количества приборов в каждой подпартии.

Например:

1) включение в подпартии диодов с различными предельно допустимыми значениями напряжений;

2) включение в подпартии транзисторов с различными предельно допустимыми значениями коэффициента прямого тока;

3) включение в подпартии выпрямительных диодов с различными предельно допустимыми значениями напряжения;

4) включение в подпартии тиристоров с различными предельно допустимыми значениями напряжения.

3.2.1.2. Идентичные предельно допустимые значения электрических параметров

Для той части испытаний, где одни и те же предельно допустимые значения электрических параметров и условия испытаний одинаковы для всех подпартий, объединенная партия должна оцениваться одним из двух способов:

1) по выборке, объем которой соответствует объему объединенной партии с включением равного или пропорционального числа приборов от всех подпартий;

2) по выборке, отобранной произвольным образом из объединенной партии; объем выборки должен соответствовать объему всей партий.

Примером подобного испытания является измерение падения прямого напряжения диодов, при котором одно и то же предельно допустимое значение относится к диодам всех типов, подвергнутых контролю, согласно перечислению 2), и объединенных в зависимости от значения обратного напряжения.

3.2.2. Объединение приборов для проверки размеров, проведения климатических и механических испытаний

Приборы, герметизированные одним и тем же методом, имеющие одинаковый базовый тип внутренней механической структуры и идентичные элементы конструкции*, подвергнутые общим операциям доводки и герметизации, могут рассматриваться как конструктивно-подобные, и вся партия, состоящая из таких приборов, может быть оценена по результатам единой выборки, объем которой должен соответствовать объему объединенной партии.

________________

* Идентичные элементы конструкции - элементы конструкции, изготовленные или закупленные по одним и тем же чертежам или ТУ и соответствующие им.

3.2.2.1.Приборы, изготовленные на идентичных производственных линиях*

________________

* Идентичные производственные линии - производственные липни, оснащенные идентичным оборудованием, с контролем техпроцесса, осуществляемого по идентичным чертежам или ТУ, использующие идентичные комплектующие изделия и материалы, расположенные на одном и том же предприятии и представляющие возможность изготовления идентичных приборов.

Испытания, для проведения которых применим принцип объединения приборов, установленный в п.3.2.2:

a) визуальный контроль;

b) проверка размеров;

c) испытание на способность к пайке; теплостойкость при пайке;

d) испытание выводов на прочность;

e) проверка стойкости к коррозии, например испытание на воздействие повышенной влажности и температуры, постоянный режим;

f) изменения температуры среды;

g) циклическое испытание на воздействие повышенной влажности и температуры (или герметичность);

h) вибрация;

i) постоянное линейное ускорение;

j) механические удары.

Примечание. Такими приборами являются, например, транзисторы различных типов, выпускаемые в корпусе, выполненном из идентичных комплектующих изделий, и изготовленные на идентичных производственных линиях.

3.2.2.2. Приборы, изготовленные на различных производственных линиях

Испытания, для проведения которых применим принцип объединения приборов, установленный в п.3.2.2:

a) визуальный контроль;

b) проверка размеров;

c) способность к пайке, теплостойкость при пайке;

d) испытание выводов на прочность;

e) проверка стойкости к коррозии, например воздействие повышенной влажности и температуры, постоянный режим.

3.2.3. Объединение приборов для проведения испытаний на срок службы

При проведении испытаний на срок службы, например испытание на срок службы с электрической нагрузкой или хранение при высокой температуре, приборы одной конструкции, изготовленные на одной и той же производственной линии, отличающиеся только предельно допустимыми значениями электрических параметров, должны быть сгруппированы в подпартии в зависимости от номинальных значений электрических параметров или их предельно допустимых значений.

Приборы, сгруппированные в подпартии, должны быть включены в одни и те же ТУ на приборы конкретных типов, но в каждом конкретном случае в отчете по испытаниям на утверждение соответствия приборов требованиям ТУ при проведении квалификационных испытаний необходимо указывать признаки, по которым проводилось объединение.

3.2.3.1. Порядок оценки партии при испытаниях, предусмотренных в группе В (контроль по партиям)

Оценка партии приборов по любому виду испытания на срок службы (если иное не установлено в форме ТУ на приборы конкретных типов) может проводиться по одной выборке, объем которой должен соответствовать объему объединенной партии при соблюдении следующих условий:

1) общее число приборов в выбранной подпартии вместе с общим числом приборов во всех других подпартиях, имеющих или более низкое номинальное значение характеристики (параметра) или менее жесткое их предельно допустимое значение, составляет не менее 60% полного объема всех подпартий в объединенной партии;

2) в процессе производства, в течение трех месяцев, предшествующих проводимым испытаниям по группе В, испытания на срок службы с электрической нагрузкой проводились на подпартии, имеющей или наивысшие предельно допустимые значения параметров или их наиболее жесткие предельно допустимые значения, и партия подвергалась контролю в течение этого периода путем испытания выборки, соответствующей полному объему объединенной партии.

3.2.3.2. Оценка приборов при испытаниях по группе С (периодических)

Для каждого вида периодических испытаний на срок службы оценка объединенной партии может проводиться по единой выборке, объем которой устанавливается в форме ТУ на приборы конкретных типов.

Единую выборку следует преимущественно формировать из подпартии, содержащей наибольшее число приборов, обеспечивая также периодические испытания других подпартий в дальнейшем.

3.3. Требования контроля при утверждении соответствия изделий ТУ

Утверждение соответствия изделий ТУ следует проводить в соответствии с Публикацией МЭК QC 001002* (п.11.3.1) по планам выборочного контроля, установленным в табл.5 и 6 настоящего стандарта или в соответствующих формах ТУ на приборы конкретных типов.

________________

* Разработка государственного стандарта не предусмотрена.

3.4. Контроль соответствия заданному уровню качества

3.4.1. Распределение методов испытаний и контроля на группы и подгруппы

Распределение испытаний на группы и подгруппы устанавливается в соответствии с табл.1-3.

Таблица 1

Группа испытаний А. Контроль по партиям

________________

** Находится в стадии разработки.

Таблица 2

Группа испытаний В. Контроль по партиям

________________

* Не применима для приборов в микроминиатюрном исполнении.

Примечание. Для приборов категории I следует руководствоваться МЭК 747-10 (ГОСТ 28623).

Таблица 3

Группа испытаний С. Периодические испытания

________________

* Не применима для приборов в микроминиатюрном исполнении.

3.5. Испытания по группе D

Испытания по группе D, при необходимости, устанавливают в ТУ на приборы конкретных типов или в стандарте вида "форма ТУ" на приборы конкретных типов только для подтверждения соответствия приборов техническим условиям.

3.6. Отбраковочные испытания

Если проведение отбраковочных испытаний согласовано или предусмотрено ТУ на приборы конкретных типов, то испытания должны проводиться для всех приборов производственной партии в соответствии с табл.4.

Отбраковочные испытания проводят, как правило, до испытаний по группам А, В и С.

Если отбраковочные испытания проводят после испытаний по группам А, В (при контроле по партиям) и С (периодические испытания), то должны быть проведены повторные испытания на паяемость, герметичность и испытания по группе А.

В стандарте вида "форма ТУ" на приборы конкретных типов могут быть предусмотрены дополнительные испытания, проводимые после отбраковочных испытаний.

Программа отбраковочных испытаний устанавливается в соответствии с табл.4.

Таблица 4

Отбраковочные испытания

_______________

Как правило, не проводятся для приборов без внутренних полостей, если иное не установлено в ТУ на приборы конкретных типов (другие методы испытаний - на рассмотрении).

Не применяется для двухразъемных диодов с аксиальными выводами.

Для диодов в прозрачных корпусах испытание может быть проведено в любом месте настоящей программы испытаний.

Примечание: Знак "+" означает - испытание проводится; "-" - испытание не проводится.

3.7. Планы выборочного контроля

В табл.5 и 6 приведены планы выборочного контроля, конкретные значения которых устанавливаются в стандартах вида "форма ТУ" на диоды и транзисторы.

Таблица 5

Требования к выборочному контролю для испытаний по группе А

________________

Значения AQL (Acceptable Quality Level - приемлемый уровень качества) приведены для общего числа дефектных приборов в каждой подгруппе.

Если для испытаний по группе А выбран LTPD (Lot Tolerance Percent Defective - допустимый процент дефектных приборов в партии), то AQL разрешается использовать только для подгруппы А2.

LTPD с максимальным приемочным числом 4.

Если 100%-ной проверкой подтверждено, что число дефектных приборов а партии менее 0,1%, то выходной выборочный контроль электрических параметров в данной подгруппе для данной партии не проводится.

Таблица 6

Требования к выборочному контролю для испытаний по группам В и С, в которых следует использовать LTPD

________________

* LTPD с максимальным приемочным числом 4.

4. МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ И ИЗМЕРЕНИЙ

Методы испытаний и измерений полупроводниковых приборов со ссылками на соответствующие стандарты МЭК (государственные стандарты) приведены в таблице настоящего пункта. Данными методами следует пользоваться в том случае, когда это указано в ТУ на приборы конкретных типов в соответствии с МЭК 747-10 (ГОСТ 28623).

Методы испытаний и измерений

________________

* Находится в стадии разработки.

** Центральное Бюро.

Электронный текст документа

и сверен по:

, 2005