ГОСТ Р 8.659-2009
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Государственная система обеспечения единства измерений
СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ ХАРАКТЕРИСТИК УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОМ КОНТРОЛЕ В НАНОФОТОЛИТОГРАФИИ
Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Instruments measuring the characteristics of ultraviolet radiation of technological testing of nanophotolitography. Verification procedure
ОКС 17.020
ОКСТУ 0008
Дата введения 2011-01-01
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП ВНИИОФИ)
2 ВНЕСЕН Научно-техническим управлением Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. N 972-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
5 ПЕРЕИЗДАНИЕ. Апрель 2019 г.
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на средства измерений (СИ) характеристик ультрафиолетового (УФ) излучения, используемые при технологическом контроле в нанофотолитографии, и устанавливает методику их первичной и периодической поверок.
Средства измерений характеристик УФ излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии обеспечивают измерения в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм следующих характеристик УФ-излучателей:
- энергетической яркости в динамическом диапазоне, нижняя граница которого составляет не более 10
- силы излучения в динамическом диапазоне, нижняя граница которого составляет не более 10
Методы оценки погрешностей СИ характеристик УФ излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии, представленные в настоящем стандарте, соответствуют рекомендациям N 53 Международной комиссии по освещению [1]*.
________________
* См. раздел Библиография. - .
Межповерочный интервал - не более одного года.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
ГОСТ 8.197 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, потока и силы излучения в диапазоне длин волн 0,001-1,600 мкм
ГОСТ 8.552 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,0004-0,400 мкм
ГОСТ Р 8.736 Государственная система обеспечения единства измерений. Измерения прямые многократные. Методы обработки результатов измерений. Основные положения
Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.
3 Операции поверки
При проведении поверки выполняют операции, указанные в таблице 1.
Таблица 1
Наименование операции | Номер раздела, подраздела, | Обязательность проведения операций при поверке | |
пункта настоящего стандарта | первичной | периодической | |
Внешний осмотр | 8.1 | + | + |
Опробование | 8.2 | + | + |
Определение метрологических характеристик | 8.3 | + | + |
Определение погрешности спектральной коррекции чувствительности | 8.3.1 | + | - |
Определение погрешности абсолютной чувствительности в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм | 8.3.2 | + | + |
Определение погрешности, возникающей из-за отклонения коэффициента линейности от единицы. Определение границ диапазонов измерений энергетической яркости и силы излучения | 8.3.3 | + | - |
Определение погрешности, возникающей из-за неидеальной коррекции угловой зависимости чувствительности | 8.3.4 | + | - |
Обработка результатов измерений | 9 | + | + |
4 Средства поверки
При проведении поверки применяют следующие средства:
- установку для измерений энергетической яркости и силы излучения в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм в составе вторичного эталона спектральной плотности энергетической яркости (далее - ВЭТ СПЭЯ) по ГОСТ 8.197. Относительное суммарное среднее квадратическое отклонение (далее - СКО) - не более 3%;
- установку для измерений спектральной чувствительности приемников излучения в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм в составе рабочего эталона потока излучения и энергетической освещенности (далее - РЭ ПИ и ЭО) по ГОСТ 8.552. Относительное суммарное СКО - не более 3%;
- установку для измерений коэффициента линейности чувствительности радиометров УФ-излучения в составе РЭ ПИ и ЭО по ГОСТ 8.552. Относительное суммарное СКО - не более 4%;
- установку для измерений угловой зависимости чувствительности фотопреобразователей УФ-излучения в составе РЭ ПИ и ЭО по ГОСТ 8.552, включающую в себя гониометр. Относительное суммарное СКО - не более 5%.
5 Требования к квалификации поверителей
Поверку должны проводить лица, аттестованные в качестве поверителей, освоившие работу с используемыми средствами поверки, изучившие настоящий стандарт и эксплуатационную документацию на средства поверки и средства измерений.
6 Требования безопасности
При поверке СИ характеристик УФ излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии должны быть соблюдены правила электробезопасности. Измерения должны проводить два оператора, аттестованных по группе электробезопасности не ниже III, прошедших инструктаж на рабочем месте по безопасности труда при эксплуатации электрических установок.
7 Условия поверки
При проведении поверки должны быть соблюдены следующие условия:
- температура окружающего воздуха - 20°С±5°С;
- относительная влажность воздуха - 65%±15%;
- атмосферное давление - от 84 до 104 кПа;
- напряжение питающей сети - (220±4) В;
- частота питающей сети - (50±1) Гц.
8 Подготовка и проведение поверки
Методика поверки СИ характеристик УФ излучения в нанофотолитографии включает в себя подготовку к поверке, внешний осмотр, опробование и определение метрологических характеристик. При подготовке к поверке СИ необходимо включить все приборы в соответствии с их инструкциями по эксплуатации.
8.1 Внешний осмотр
При внешнем осмотре должны быть установлены:
- соответствие комплектности СИ паспортным данным;
- отсутствие механических повреждений блоков СИ, сохранность соединительных кабелей и сетевых разъемов;
- четкость надписей на панели СИ;
- наличие маркировки (тип и заводской номер СИ);
- отсутствие сколов, царапин и загрязнений на оптических деталях СИ.
8.2 Опробование
При опробовании должны быть установлены:
- наличие показаний радиометра при освещении УФ излучением;
- правильное функционирование переключателей пределов измерений, режимов работы СИ.
8.3 Определение метрологических характеристик
8.3.1 Определение погрешности спектральной коррекции чувствительности
Погрешность СИ, вызванную неидеальной спектральной коррекцией чувствительности, определяют по результатам измерений отклонений относительной спектральной чувствительности (далее - ОСЧ) поверяемого СИ от стандартной, равной единице в пределах рабочего спектрального диапазона 10-30 нм и нулю вне рабочего диапазона. ОСЧ поверяемого СИ сравнивают с известной спектральной чувствительностью эталонного фотопреобразователя УФ-излучения, поверенного в ранге РЭ по ГОСТ 8.552 в диапазоне длин волн от 7 до 1100 нм. Измерения относительной спектральной чувствительности поверяемого СИ УФ-излучения проводят с использованием источника синхротронного излучения, монохроматоров типов МДР-23, ВМР-2, ДФС-29, комплекта светофильтров из кварца и фтористого магния, фотоприемников типов AXUV, поверенных в ранге РЭ ПИ и ЭО ГОСТ 8.552. При определении погрешности измерений относительной спектральной чувствительности в диапазоне длин волн от 7 до 1100 нм эталонное и поверяемое СИ поочередно устанавливают за выходной щелью монохроматора таким образом, чтобы поток монохроматического излучения проходил в апертурную диафрагму. Показания эталонного радиометра
Для каждой длины волны определяют среднее значение ОСЧ
Граница относительной неисключенной систематической погрешности результата измерений ОСЧ
Относительное суммарное СКО результатов измерения ОСЧ
Значение относительного суммарного СКО результатов измерений ОСЧ в диапазоне длин волн от 7 до 1100 нм не должно превышать 5%.
Погрешность спектральной коррекции поверяемого СИ
где
Для определения возможности применения поверяемого СИ при технологическом контроле в нанофотолитографии установлен перечень контрольных и стандартных источников излучения. Табулированные значения
Таблица 2 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
9,8 | 231 | 50 | 1020 | 160 | 106 |
10 | 279 | 60 | 7791 | 180 | 81,4 |
13 | 680 | 70 | 601 | 200 | 63,6 |
15 | 975 | 80 | 471 | 225 | 47,8 |
18,5 | 1385 | 90 | 375 | 250 | 36,9 |
20 | 1504 | 100 | 302 | 275 | 29,1 |
25 | 1663 | 110 | 249 | 300 | 23,5 |
30 | 1622 | 120 | 206 | 350 | 15,9 |
35 | 1493 | 130 | 173 | 400 | 11,1 |
40 | 1326 | 140 | 146 | 500 | 6,38 |
45 | 1172 | 150 | 124 | 600 | 3,33 |
Окончание таблицы 2
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
700 | 2,67 | 900 | 1,38 | 1100 | 0,82 |
800 | 1,89 | 1000 | 1,04 |
Таблица 3 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
200 | 5,55·10 | 380 | 1,03·10 | 560 | 5,40·10 |
205 | 8,19·10 | 385 | 7,87·10 | 565 | 5,51·10 |
210 | 1,04·10 | 390 | 2,27·10 | 570 | 6,27·10 |
215 | 1,04·10 | 395 | 5,82·10 | 575 | 9,48·10 |
220 | 1,23·10 | 400 | 7,40·10 | 580 | 7,04·10 |
225 | 1,29·10 | 405 | 3,30·10 | 585 | 5,47·10 |
230 | 1,18·10 | 410 | 7,52·10 | 590 | 5,07·10 |
235 | 1,02·10 | 415 | 8,64·10 | 595 | 5,05·10 |
240 | 8,64·10 | 420 | 8,36·10 | 600 | 5,02·10 |
245 | 4,87·10 | 425 | 9,92·10 | 605 | 4,98·10 |
250 | 9,05·10 | 430 | 1,39·10 | 610 | 4,99·10 |
255 | 4,42·10 | 435 | 6,38·10 | 615 | 4,92·10 |
260 | 1,75·10 | 440 | 2,37·10 | 620 | 4,97·10 |
265 | 2,93·10 | 445 | 1,20·10 | 625 | 4,94·10 |
270 | 1,01·10 | 450 | 7,58·10 | 630 | 4,92·10 |
275 | 6,52·10 | 455 | 6,42·10 | 635 | 4,95·10 |
280 | 1,78·10 | 460 | 5,43·10 | 640 | 4,99·10 |
285 | 2,15·10 | 465 | 5,19·10 | 645 | 5,02·10 |
290 | 8,08·10 | 470 | 5,57·10 | 650 | 5,07·10 |
295 | 1,21·10 | 475 | 5,65·10 | 655 | 5,16·10 |
300 | 1,48·10 | 480 | 5,38·10 | 660 | 5,25·10 |
305 | 3,67·10 | 485 | 6,13·10 | 665 | 5,27·10 |
310 | 1,20·10 | 490 | 1,79·10 | 670 | 6,07·10 |
315 | 6,09·10 | 495 | 7,15·10 | 675 | 5,22·10 |
320 | 1,50·10 | 500 | 4,26·10 | 680 | 5,21·10 |
325 | 1,19·10 | 505 | 4,49·10 | 685 | 5,23·10 |
330 | 1,13·10 | 510 | 4,63·10 | 690 | 5,82·10 |
335 | 1,03·10 | 515 | 4,70·10 | 695 | 5,27·10 |
340 | 9,48·10 | 520 | 4,65·10 | 700 | 5,25·10 |
345 | 7,87·10 | 525 | 4,69·10 | 705 | 5,34·10 |
350 | 6,71·10 | 530 | 4,74·10 | 710 | 7,11·10 |
355 | 9,12·10 | 535 | 9,77·10 | 715 | 5,05·10 |
360 | 9,51·10 | 540 | 6,49·10 | 720 | 5,01·10 |
365 | 1,000 | 545 | 7,18·10 | 725 | 4,94·10 |
370 | 2,68·10 | 550 | 5,61·10 | 730 | 4,89·10 |
375 | 1,01·10 | 555 | 5,50·10 | 735 | 4,90·10 |
Окончание таблицы 3
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
740 | 4,93·10 | 865 | 5,38·10 | 990 | 6,07·10 |
745 | 4,92·10 | 870 | 5,41·10 | 995 | 6,08·10 |
750 | 4,94·10 | 875 | 5,43·10 | 1000 | 6,09·10 |
755 | 4,98·10 | 880 | 5,45·10 | 1005 | 6,09·10 |
760 | 4,97·10 | 885 | 5,48·10 | 1010 | 6,23·10 |
765 | 4,99·10 | 890 | 5,52·10 | 1015 | 7,66·10 |
770 | 5,01·10 | 895 | 5,55·10 | 1020 | 6,18·10 |
775 | 5,04·10 | 900 | 5,58·10 | 1025 | 6,09·10 |
780 | 5,05·10 | 905 | 5,62·10 | 1030 | 6,08·10 |
785 | 5,11·10 | 910 | 5,65·10 | 1035 | 6,06·10 |
790 | 5,09·10 | 915 | 5,70·10 | 1040 | 6,04·10 |
795 | 5,11·10 | 920 | 5,72·10 | 1045 | 6,01·10 |
800 | 5,14·10 | 925 | 5,76·10 | 1050 | 5,96·10 |
805 | 5,16·10 | 930 | 5,79·10 | 1055 | 5,93·10 |
810 | 5,16·10 | 935 | 5,82·10 | 1060 | 5,89·10 |
815 | 5,16·10 | 940 | 5,84·10 | 1065 | 5,86·10 |
820 | 5,18·10 | 945 | 5,87·10 | 1070 | 5,82·10 |
825 | 5,18·10 | 950 | 5,89·10 | 1075 | 5,79·10 |
830 | 5,19·10 | 955 | 5,92·10 | 1080 | 5,75·10 |
835 | 5,22·10 | 960 | 5,96·10 | 1085 | 5,72·10 |
840 | 5,25·10 | 965 | 5,98·10 | 1090 | 5,69·10 |
845 | 5,28·10 | 970 | 6,01·10 | 1095 | 5,66·10 |
850 | 5,31·10 | 975 | 6,04·10 | 1100 | 5,69·10 |
855 | 5,33·10 | 980 | 6,05·10 | ||
860 | 5,36·10 | 985 | 6,05·10 |
Таблица 4 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
10,0 | 0,299 | 17,0 | 0,086 | 24,0 | 0,007 |
10,5 | 0,489 | 17,5 | 0,056 | 24,5 | 0,011 |
11,0 | 0,161 | 18,0 | 0,038 | 25,0 | 0,014 |
11,5 | 0,175 | 18,5 | 0,025 | 25,5 | 0,007 |
12,0 | 0,109 | 19,0 | 0,018 | 26,0 | 0,014 |
12,5 | 0,095 | 19,5 | 0,015 | 26,5 | 0,012 |
13,0 | 0,474 | 20,0 | 0,007 | 27,0 | 0,006 |
13,5 | 1,000 | 20,5 | 0,009 | 27,5 | 0,013 |
14,0 | 0,832 | 21,0 | 0,008 | 28,0 | 0,015 |
14,5 | 0,825 | 21,5 | 0,008 | 28,5 | 0,007 |
15,0 | 0,474 | 22,0 | 0,015 | 29,0 | 0,011 |
15,5 | 0,336 | 22,5 | 0,009 | 29,5 | 0,014 |
16,0 | 0,321 | 23,0 | 0,015 | 30,0 | 0,009 |
16,5 | 0,175 | 23,5 | 0,009 |
Таблица 5 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
9 | 1,00 | 20 | 1,02 | 300 | 1,03·10 |
11 | 1,44 | 30 | 0,87 | 400 | 5,90·10 |
13 | 5,62 | 40 | 0,59 | 500 | 3,48·10 |
13,5 | 6,40 | 50 | 0,21 | 600 | 2,64·10 |
14 | 5,84 | 60 | 0,14 | 800 | 6,05·10 |
15 | 3,80 | 80 | 0,074 | 1000 | 2,02·10 |
16 | 2,61 | 100 | 0,035 | 1100 | 3,23·10 |
18 | 1,32 | 200 | 1,60·10 |
Таблица 6 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
10,0 | 0,009 | 17,0 | 0,096 | 24,0 | 0,085 |
10,5 | 0,009 | 17,5 | 0,094 | 24,5 | 0,088 |
11,0 | 0,009 | 18,0 | 0,092 | 25,0 | 0,082 |
11,5 | 0,010 | 18,5 | 0,087 | 25,5 | 0,087 |
12,0 | 0,013 | 19,0 | 0,074 | 26,0 | 0,083 |
12,5 | 0,039 | 19,5 | 0,081 | 26,5 | 0,085 |
13,0 | 0,106 | 20,0 | 0,086 | 27,0 | 0,084 |
13,5 | 1,000 | 20,5 | 0,084 | 27,5 | 0,083 |
14,0 | 0,508 | 21,0 | 0,079 | 28,0 | 0,086 |
14,5 | 0,267 | 21,5 | 0,086 | 28,5 | 0,084 |
15,0 | 0,164 | 22,0 | 0,083 | 29,0 | 0,083 |
15,5 | 0,113 | 22,5 | 0,082 | 29,5 | 0,085 |
16,0 | 0,132 | 23,0 | 0,086 | 30,0 | 0,083 |
16,5 | 0,109 | 23,5 | 0,079 |
Таблица 7 - Значения
Длина волны, нм | Длина волны, нм | Длина волны, нм | |||
8,00 | 0,175 | 11,00 | 0,161 | 14,00 | 0,832 |
8,25 | 0,226 | 11,25 | 0,146 | 14,25 | 0,788 |
8,50 | 0,263 | 11,50 | 0,175 | 14,50 | 0,825 |
8,75 | 0,336 | 11,75 | 0,102 | 14,75 | 0,672 |
9,00 | 0,584 | 12,00 | 0,109 | 15,00 | 0,474 |
9,25 | 0,504 | 12,25 | 0,073 | 15,25 | 0,394 |
9,50 | 0,460 | 12,50 | 0,095 | 15,50 | 0,336 |
9,75 | 0,474 | 12,75 | 0,153 | 15,75 | 0,285 |
10,00 | 0,299 | 13,00 | 0,474 | 16,00 | 0,321 |
10,25 | 0,394 | 13,25 | 0,803 | 16,25 | 0,263 |
10,50 | 0,489 | 13,50 | 1,000 | 16,50 | 0,175 |
10,75 | 0,292 | 13,75 | 0,978 |
8.3.2 Определение погрешности абсолютной чувствительности средств измерений в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм
Определение погрешности абсолютной чувствительности средств измерений в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм проводят с использованием источника синхротронного излучения. Эталонное и поверяемое средство измерений энергетической яркости поочередно устанавливают на одинаковом расстоянии от излучателя и юстируют по углу для получения изображения излучающей области источника. Показания эталонного средства измерений
где
Определяют среднеарифметическое значение абсолютной чувствительности поверяемого СИ, суммарное СКО результата измерений с учетом погрешности эталонного СИ по формулам (1)-(3). Предельная погрешность определения абсолютной чувствительности
8.3.3 Определение погрешности, возникающей из-за отклонения коэффициента линейности средства измерений от единицы. Определение границ диапазона измерений энергетической яркости и силы излучения
Коэффициент линейности определяют по отклонению значения чувствительности СИ от постоянного значения в рабочем диапазоне измеряемой величины. Фиксируют ток источника синхротронного излучения
и погрешность поверяемого СИ
При определении границ диапазона измерений энергетической яркости и силы излучения поверяемого СИ ток излучателя увеличивают таким образом, чтобы значение энергетической яркости (силы излучения) увеличилось на порядок. Измеряют значения сигналов и рассчитывают соответствующее значение погрешности
8.3.4 Определение погрешности средства измерений, возникающей из-за неидеальной коррекции угловой зависимости чувствительности
Поверяемое СИ устанавливают на поворотном столике гониометра с использованием в качестве излучателя источника синхротронного излучения. Регистрируют показания
Косинусную погрешность СИ
Значение
При превышении указанного значения косинусной погрешности допускается ограничивать угол зрения СИ.
9 Обработка результатов измерений
Обработку результатов измерений характеристик СИ и определение основной относительной погрешности проводят в соответствии с ГОСТ 8.736*.
________________
* Вероятно, ошибка оригинала. Следует читать ГОСТ Р 8.736. - .
Относительное СКО
СКО
Границу относительной неисключенной систематической погрешности
где
Предел допускаемой основной относительной погрешности СИ
где
При
Результаты поверки СИ энергетической яркости и силы излучения считают положительными, если предел допускаемой основной относительной погрешности не превышает 10%.
10 Оформление результатов поверки
10.1 При положительных результатах поверки оформляют свидетельство о поверке и СИ допускают к применению.
10.2 При отрицательных результатах поверки свидетельство аннулируют и выдают извещение о непригодности СИ.
Библиография
[1] CIE N 53* Methods of characterizing the performance of radiometers and photometers. - 1982. - 24 p.
________________
* Доступ к международным и зарубежным документам, упомянутым в тексте, можно получить, обратившись в Службу поддержки пользователей. - .
УДК 543.52:535.214.535.241:535.8:006.354 | ОКС 17.020 |
| ОКСТУ 0008 |
Ключевые слова: энергетическая яркость, сила излучения, спектральная чувствительность, средства измерений, ультрафиолетовое излучение, нанофотолитография, синхротронное излучение |
Электронный текст документа
и сверен по:
, 2019